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清潔度自動(dòng)分析系統(tǒng)
清潔度自動(dòng)分析系統(tǒng)
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HACCO-500ZD 清潔度檢測(cè)系統(tǒng)的完全符合 VDA 19.1-2015, ISO 16232, ISO4406 和 ISO 4407、QV11111以及客戶自定義等標(biāo)準(zhǔn)的要求。采用光學(xué)偏振技術(shù)，手動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)偏光裝置，通過(guò)兩次掃描即可完成整個(gè)濾膜上所有污染物的金屬光澤反射屬性的判定，同時(shí)根據(jù) VDA19.1 對(duì)纖維的形態(tài)學(xué)定義（拉伸長(zhǎng)度/蕞大內(nèi)切圓直徑＞20，蕞大內(nèi)切圓直徑≦50 微米），即可在幾分鐘內(nèi)迅速自動(dòng)完成以下四類顆粒的分類和尺寸測(cè)量：反光顆粒、反光纖維、非反光顆粒、非反光纖維。
隱藏域元素占位
本裝置采用精密微孔濾膜，抽真空過(guò)濾待檢測(cè)流體，將流體中的顆粒污染物截留在濾膜表面，再對(duì)濾膜采用色標(biāo)比色法、配對(duì)稱重法、顯微鏡觀察法、儀器分析法等方法，對(duì)流體中所含的顆粒污染物的大小進(jìn)行手動(dòng)分析。根據(jù)流體的性質(zhì)、顆粒粒徑與分析目的不同，選用不同性能、不同孔徑的濾膜。?
隱藏域元素占位
HACCO-100ZD 清潔度檢測(cè)系統(tǒng)的完全符合 VDA 19.1-2015, ISO 16232, ISO4406 和 ISO 4407、QV11111以及客戶自定義等標(biāo)準(zhǔn)的要求。采用光學(xué)偏振技術(shù)，手動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)偏光裝置，通過(guò)兩次掃描即可完成整個(gè)濾膜上所有污染物的金屬光澤反射屬性的判定，同時(shí)根據(jù) VDA19.1 對(duì)纖維的形態(tài)學(xué)定義（拉伸長(zhǎng)度/蕞大內(nèi)切圓直徑＞20，蕞大內(nèi)切圓直徑≦50 微米），即可在幾分鐘內(nèi)迅速自動(dòng)完成以下四類顆粒的分類和尺寸測(cè)量：反光顆粒、反光纖維、非反光顆粒、非反光纖維。
隱藏域元素占位
HACCO-CAI100 清潔度檢測(cè)系統(tǒng)的完全符合 VDA 19.1-2015, ISO 16232, ISO4406 和 ISO 4407、QV11111以及客戶自定義等標(biāo)準(zhǔn)的要求。采用光學(xué)偏振技術(shù)，手動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)偏光裝置，通過(guò)兩次掃描即可完成整個(gè)濾膜上所有污染物的金屬光澤反射屬性的判定，同時(shí)根據(jù) VDA19.1 對(duì)纖維的形態(tài)學(xué)定義（拉伸長(zhǎng)度/蕞大內(nèi)切圓直徑＞20，蕞大內(nèi)切圓直徑≦50 微米），即可在幾分鐘內(nèi)迅速自動(dòng)完成以下四類顆粒的分類和尺寸測(cè)量：反光顆粒、反光纖維、非反光顆粒、非反光纖維。
隱藏域元素占位
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